百特研发总监范继来获“中国颗粒学会青年颗粒学”奖
  作者:|时间:2018-08-24|关注180

        在日前召开的中国颗粒学会第十届学术年会上,丹东百特仪器有限公司研发总监、研发中心主任范继来获得中国颗粒学会青年颗粒学奖,是本届获奖者中唯一的企业界人士。

        中国颗粒学会青年颗粒学奖,是郭慕孙院士用所获得的何梁何利基金奖的全部奖金和个人部分积蓄设立“青年颗粒学基金”,中国颗粒学会利用此基金于1997年设立了“中国颗粒学会青年颗粒学奖”,旨在鼓励颗粒学领域做出突出贡献的青年科技工作者。经国家科学奖励办公室正式批准,“中国颗粒学会青年颗粒学奖” 是国家承认的社会力量设立的科学技术奖。

        范继来从事颗粒测试技术研究16年,他和他所带领的团队以特有的执着和科学的方法,在激光粒度测试理论、反演计算、光学系统、颗粒折射率测量、图像颗粒分析技术领域取得了一项又一项成果,取得11项专利,其中激光粒度测试双镜头光学系统、正反傅里叶结合光学系统、颗粒折射率测量技术为世界首创技术,填补国内外颗粒测试技术空白,使中国颗粒测试技术拥有了系统性的自主知识产权,为中国颗粒测试技术赶超世界先进水平做出了突出贡献。

        在应用技术研究方面,以范继来为首的研发团队做了大量开创性的工作,推出了激光/图像二合一粒度粒形分析系统、智能化粒度测试系统、纳米粒度测试技术、动态图像颗粒分析系统以及光通量补偿技术等几十项技术,使百特颗粒分析仪器的技术性能始终处于国内外领先地位,同时结束了中国高端颗粒测试仪器只能依靠进口的历史。

        2006年,百特总经理董青云曾获得当年中国颗粒学会青年颗粒学奖,十二年后百特研发总监范继来又获得中国颗粒学会青年颗粒学奖,这不仅是对获奖者个人取得成绩的肯定, 更是颗粒测试界对百特长期以来致力于颗粒测试技术研发并取得突出成绩的肯定。丹东百特将不负众望,不辱使命,继续致力于颗粒测试技术研究,致力于高水平颗粒测试仪器制造,为百特实现国际知名粒度仪器品牌的目标而继续努力。